左侧视轴系统改为轴对准系统
轴对准是单一系统光轴校准或者是一系列光学或者光电系统的的参考光轴或机械轴校准。更好的轴校准在由一系列系统组成如红外热像仪,可见光/近红外相机,短波红外相机,激光测距机,激光指示器等组成的光电多传感器监控系统中起着重要的作用。
多传感器光电系统是轴对准最难的情况。 因此,本节中的术语“轴对准”是指用于多传感器光电系统的基础测试与轴对准测试。 双目夜视装置和激光测距仪的轴对准需要使用单独的测试系统。 Inframet提供三个主要的测试系统用于光电系统的基础测试与轴对准测试:JT测试系统,JAT测试系统和JIMS测试系统。
图1. JT400轴对准测试系统 |
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图2。 J1T-300校轴系统 |
图3. JIMS轴对准测试系统 |
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![]() 图4. JAT200轴对准测试系统 |
![]() 圖5. JTAR便攜式視軸站 |
JT测试系统是模块化的准通用测试系统,可以扩展到轴对准和多传感器光电系统的基本参数测试。 这些测试系统通常是实验室/仓库环境应用级别。 Inframet的一些客户建立了特殊的平台,可以运输这些系统,并在实验室外进行测试。 但是,这种情况是规则的一个例外。
J1T可以看作是JT测试系统的特殊版本,特殊之处有两点:
1.使用离轴反射式平行光管(无中心死区)代替中心反射式平行光管,
2.仅使用一个反射镜(无第二平面反射镜,也就避免了被高能激光损坏的可能性)。
JAT测试系统可以认为是一个特殊的可移动轴校准测试系统最优化设计于测试多传感器光电系统在野外环境。JAT测试系统是一个紧凑的,轻量化的测试系统用于轴对准测试以及多传感器光电系统基础测试。其次,该测试系统可以最优化设计于支持不同尺寸光学传感器的多传感器光电系统。以上的这些功能描述使得JAT测试系统适用于多传感器光电系统在执行重要命令之前的测试及维修。
JIMS测试系统可以作为JT测试系统的特殊版本,最优化适用于测试光学口径超过1000mm的光电系统。对于水平方向布局的光电系统测试是一套近乎完美的方案。然而,需要注意的是JIMS测试系统的测试精度比典型的JT测试系统略差。
JTAR轴对准测试站设计不同于典型的轴对准测试系统,典型的轴对准系统基于图像投影系统位于被测试系统的近距离位置且与被测试系统进行理想的对准。JTAR测试站采用了位于被测试系统很远距离的可移动式激光靶标,其靶标可以同时被红外相机与VIS-NIR相机采集,进而测试成像探测器之间的轴对准偏差。
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